Advantest is a leading global semiconductor test provider. Our testers are used to determine whether semiconductors operate properly and meet performance and durability requirements.

Our reputation for high precision and efficiency underpins the performance of end products from smartphones to satellites.

We support the safety, security, and comfort of people worldwide by ensuring the quality and reliability of semiconductors.

In 2025 SEDEX, we are proudly presenting

1) The Terahertz Spectroscopy/Imaging System (TAS7400 series) is the optimal product for evaluating materials used in future ultra-high-speed communications, such as B5G/6G, autonomous driving/ADAS/V2I.

2) The 5um High-resolution Failure Location Analysis System (TS9001 TDR) is the ideal solution for failure analysis of cutting-edge packages or modules, including Advanced PKG (2.5D/3D/SiP)/Multi-Layer PCB.

3) PEMP™ (Photoelectric Massive Parallel Testing) is Advantest's proprietary test method that allows for Micro LED EL and electrical testing in a single measurement. It offers excellent correlation with existing tests and significantly reduces test costs by over 90%.

We aim to introduce these products to customers and contribute to the advancement of related industries.

ADVANTEST는 Memory/SoC 등의 반도체 Test System을 개발, 생산, 판매하는 Global Leading 기업입니다.

당사는 "진화하는 반도체 밸류 체인으로 고객 가치를 추구"하기 위해 반도체의 양산 Test System 및 반도체 양산 공정의 전후 반도체 설계, 평가공정 및 제품, 시스템레벨 시험공정 사업영역을 넓히는 것으로, 사업 확대와 기업가치 향상을 목표로 하고 있습니다.

이번 출전하는 

1) Terahertz Spectroscopy/ Imaging System (TAS7400 시리즈)은 B5G/6G, Autonomous driving/ ADAS/V2I로 대표되는 미래의 초고속 통신에 사용되는 재료의 평가에 적합한 최고의 제품입니다.

2) 5um High-resolution Failure Location Analysis System(TS9001 TDR)은 Advanced PKG(2.5D/3D/SiP)/Multi-Layer PCB 등의 최첨단 Package나 Module의 불량 해석에 최적입니다.

3) PEMPTM(Photo Electric Massive Parallel testing)은 Micro LED EL과 전기적 테스트를 한 번의 측정으로 가능하게 하는 Advantest의 독창적인 테스트 방법입니다. 기존 테스트와 우수한 상관 관계를 가지고 있으며 테스트 비용을 90% 이상 대폭 절감합니다.